產(chǎn)品名稱(chēng)：高溫*納米壓痕測試儀

高溫*納米壓痕測試儀 (UNHT3 HTV)

儀器簡(jiǎn)介：

高溫納米壓痕測試儀是測量小載荷下納米尺度機械性能的測試系統，溫度在 800 °C 以下的薄膜和涂層的硬度和彈性模量。專(zhuān) 利 UNHT 技術(shù)與獨特的加熱功能結合，可提供在任何溫度下的高穩定性測量解決方案。

主要特點(diǎn)：

●環(huán)境條件下低熱漂移 (< 0.5 nm/min) 和整個(gè)溫度范圍內低熱漂移 (< 3 nm/min)。

●高載荷框架剛度 (>>106 N/m) 和低框架柔度 (<<0.1 nm/mN)：兩套獨立的位移和載荷傳感器與高精度電容傳感器結合，可選擇“控制位移”和“載荷控制”模式。

●高真空系統具有 5 軸磁懸浮渦輪泵和緩沖系統，允許在測量期間關(guān)閉初級泵，使振動(dòng)降至*低。

●獨特的加熱控制系統（3 項專(zhuān) 利待批），采用3 個(gè)紅外 (IR) 加熱器分別用于給壓痕針尖、參比針尖和樣品進(jìn)行加熱，以及 4 個(gè)熱電偶用于將樣品表面溫度控制到 變化在0.1°C 內。

●符合 ISO 14577 和 ASTM E2546 **標準

技術(shù)指標：

***實(shí)驗室條件下規定的本底噪音值，并使用減震臺。